Bolacha de 4 polegadas (100 mm)

Bolacha de 4 polegadas (100 mm)

A linha de produtos da Microelectronics inclui substratos de pastilhas polidos de lado único (SSP) e de lado duplo polido (DSP). ● Bolacha de silicone polido tipo 4 "P (25 unid.) ● Orientação: 100 ● Resistividade: 0,1 - 40 Ohm • cm (pode variar de lote para lote) ● Espessura: 525 +/- 20um ● Prime / Monitor / Test Grade
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Descrição
Parâmetros técnicos

【Introdução ao produto】

Bolacha polida de 4 polegadas (100mm) DSC01065 730


Bolacha polida de 4 polegadas (100mm) DSC01070 730


PROPRIEDADES MATERIAIS

Parâmetro

Característica

Método de Controle ASTM

Tipo / Dopante

P, N de fósforo, N de fósforo, Antimônio N, Arsênico

F42

Orientações

<100>, <111> corte as orientações de acordo com as especificações do cliente

F26

Conteúdo de Oxigênio

10 18 ppmA tolerâncias personalizadas por especificação do cliente

F121

Conteúdo Carbono

<0,5 ppma="" tolerâncias="" personalizadas="" por="" especificação="" do="">

F123

Faixas de resistividade-P, Boro-N, Fósforo-N, Antimônio-N, Arsênico

0,001 - 50 ohm · cm
0,1 - 40 ohm · cm
0,005 - 0,025 ohm · cm
<0,005 ohm="">

F84

 

PROPRIEDADES MECÂNICAS

Parâmetro

Prime

Monitor / Teste A

Teste

Método ASTM

Diâmetro

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,5 mm

F613

Espessura

525 ± 20 µm (padrão)

525 ± 25 µm (padrão) 381 ± 25 µm 625 ± 25 µm 700 ± 25 µm 800 ± 25 µm 1000 ± 25 µm 1500 ± 25 µm

525 ± 50 µm (padrão)

F533

TTV

<5>

<10>

<15>

F657

Arco

<30>

<30>

<40>

F657

Embrulho

<30>

<30>

<40>

F657

Arredondamento de borda

SEMI-STD

F928

Marcação

Planos SEMI-STD, somente SEMI-Flat Primário

F26, F671

  

QUALIDADE DA SUPERFÍCIE

Parâmetro

Prime

Monitor / Teste A

Teste

Método ASTM

Critérios do lado da frente

Condição de superfície

Mecânico Mecânico Polido

Mecânico Mecânico Polido

Mecânico Mecânico Polido

F523

Rigidez da superfície

<2 a="">

<2 a="">

<2 a="">


Contaminação, Partículas @> 0.3 µm

= 20

= 20

= 30

F523

Névoa, poços, casca de laranja

Nenhum

Nenhum

Nenhum

F523

Serras, estrias

Nenhum

Nenhum

Nenhum

F523

Critérios do verso

Rachaduras, crowsfeet, viu marcas, manchas

Nenhum

Nenhum

Nenhum

F523

Condição de superfície

Caustic gravado

F523

  

【 Descrição do produto 】

A linha de produtos da Microelectronics inclui substratos de pastilhas polidos de lado único (SSP) e de lado duplo polido (DSP). As pastilhas polidas de lado duplo são normalmente necessárias em semicondutores, MEMS e outras aplicações onde são necessárias pastilhas com características de planicidade controladas rigidamente.

 

Nós também oferecemos peças de bolacha retangulares e quadradas. Basicamente realizável intervalo dos comprimentos de borda para pastilhas de silício é 5 x 5 mm2 ... 100 x 120 mm2 etc. O custo / pastilha depende do material, bem como sobre o número de peças de wafer necessárias.

 

O corte e o polimento personalizados também estão disponíveis de acordo com as suas necessidades. Por favor sinta-se livre para entrar em contato conosco.

 

【 Características do produto 】

·          4 "tipo P / N, bolacha de silício Polido (25 unidades)

·          Orientação: 100

·          Resistividade: 0,1 - 40 Ohm · cm (pode variar de lote para lote)

·          Espessura: 525 +/- 20um

·          Prime / Monitor / Test Grade


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